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通知公告

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关于举办“旱作国家重点实验室大型仪器技术讲座与培训”(十九)的通知

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扫描电子显微镜(SEM)是对各种材料的物质表面及内部进行形貌观察、成分分析和结构测定的有力工具。为了促进师生了解、掌握“HITACHI S4800场发射扫描电镜”基本原理和相关操作,实验室安全与条件保障处和国家重点实验室定于8月5日在科研楼1309实验室举办专题培训,现有关事项通知如下:

一、培训时间

2020年8月5日(星期三)上午9:00—11:00

二、培训内容

HITACHI S4800场发射扫描电镜基本原理、样品制备及相关操作

三、主讲人

张国云,旱区作物逆境生物学国家重点实验室技术人员,硕士,高级实验师。

四、企业微信网络直播平台

1.手机用户:通过微信客户端扫描二维码进入。

2.电脑用户:通过电脑微信端扫码进入。


企业微信二维码

五、HITACHI S4800场发射扫描电镜的参数与功能

(一)参数

1.二次电子像分辨率—1.0nm (15KV),2.0nm (1KV),1.4nm(1kv,减速功能);

2.放大倍数:x20~800,000;

3.加速电压:0.1KV~30KV;

4.束流:1.0pA~2.0nA。

(二)功能

1.二次电子形貌(SEI):对试样表面及断口进行形貌观察分析;

2.背反射成分像/形貌像(BEI):对试样进行更深一层的形貌观察,并得到原子序数衬度;

3.元素的定性半定量分析(EDX):结合X射线能谱仪对试样表面某区域或某点进行成分定性和半定量分析。

实验室安全与条件保障处 

旱区作物逆境生物学国家重点实验室

2020年7月31日

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